Lietotājs:Yyy/ex
Vikipēdijas raksts
Šeit paredzēts izvietot datus kas neiederas pie user:yyy. (vieta eksperimentiem).
Subscript un Superscript Tas ir superscript atbilstošs <sup>superscript</sup>, tas ir subscript atbilstošs <sub>subscript</sub> --Yyy 13:10, 28 maijā, 2005 (UTC)
- Raksts par SI tagad atrodas main namespace.
- Raksts par AFM arī (Atomspēku mikroskops), bet tas ir stubveidīgs.
Satura rādītājs |
[izmainīt šo sadaļu] AFM
Atomspēku mikroskops (AFM)(no angļu valodas: Atomic force microscope) ir spēcīgs mikroskops, kas tika izgudrots 1986 gadā. To ir iespējams lietot ne tikai lai iegūtu attēlus, bet arī lai manipulētu vielu nanometru mērogā. (nanolitogrāfija).
AFM sastāv no sviras (cantilevera) ar asu adatu (tip) tās galā, ar adatas gala izmēru 5-30 nm. (adatas garums parasti ir 2-20 um, sviras garums ir 100-500 um). Šo konstrukciju parasti izgatavo no monolīta silīcija vai silīcija nitrīda. Sākumā adatu pietuvina parauga virsmai. Spēki starp adatu un paraugu izraisa sviras (cantilevera) atliekšanos, saskaņā ar Huka likumu, sviras elastības konstante (spēka konstante) ir zināma. Sviras atliekšanos parasti mēra lietojot lāzera stara atstarošanos no sviras virsmas uz fotodiožu masīvu (2 vai 4 diodes). Alternatīvs atliekšanās mērīšanas veids ir lietot pjezorezistīvu sviru (cantileveri), tā pretestība ir atkarīga no izliekuma. Šī metode nav tik jutīga, kā ar lāzeru, taču to ir iespējams lietot tādos apstākļos, kur ar lāzeru ir pārāk liela ķēpa (vakuumā).
Ja adatu virsmai velk pāri konstantā augstumā, pastāv risks, ka adata ietrieksies virsmā un var sabojāt adatu vai paraugu, tāpēc parasti lieto atgriezeniskās saites (feedback) sistēmu, lai regulētu adatas attālumu līdz paraugam un lai spēks starp adatu un paraugu būtu konstants. Parasti paraugu nostiprina uz pjezoelektriskas caurules (skenera), kura var pārvietot paraugu Z ass virzienā (uz augšu un leju), tādejādi regulējot attālumu starp paraugu un adatu, un nodrošinot konstantu spēku starp adatu un paraugu. Caurule var arī locīties X un Y ass virzienā, pārvietojot paraugu pret adatu šajos virzienos. Iegūtā karte no v(x,y) raksturo parauga topogrāfiju. Iespējams arī tāds variants, kad cantileveri un daļu optikas nostiprina pie skenera, un paraugu vienkārši noliek apakšā.
Laika gaitā ir tikuši izstrādāti vairāki AFM darba režīmi, nozīmīgāki no tiem ir: kontakata režīms (contact mode), bezkontakta režīms (noncontact mode) un dinamiskā kontakta režīms (dynamic contact mode, intermittent contact mode, tapping mode (tm)). Kontakta režīmā spēku starp adatu un paraugu cenšas uzturēt konstantu, uzturot nemainīgu atliekšanos. Bezkontakta režīmā sviru kustina ar frekvenci, kas ir tuva tās rezonanses frekvencei. Ja adata atrodas virsmas tuvumā to svārstību rezonanses frekvenci ietekmē virsmas spēki. Takā normālos apstākļos lielākā daļa virsmu ir pārklātas ar ļoti plānu ūdens plēvīti, tā pievelk adatu ar kapilārajiem spēkiem un tāpēc normālos apstākļos bezkontakta metode ir problemātiska. Dinamiskā kontakta metode ir līdzīga bezkontakta metodei, tikai tur lieto lielākas svārstību amplitūdas un svārstību perioda apakšējā daļā adata pieskaras parauga virsmai. Lietojot bezkontakta vai dinamiskā kontakta metodi, adatas attālumu līdz virsmai nosaka mērot svārstību amplitūdas samazināšanos (virsmas spēki slāpē svārstības). Signāla fāzes izmaiņas arī var dot informāciju par parauga īpašībām.
AFM ir dažas priekšrocības salīdzinot ar elektronu mikroskopu: atšķirībā no elektronu mikroskopa, kas dod 3D parauga 2D projekciju, AFM dod patiesu 3D topogrāfiju. Paraugiem, kurus aplūko ar AFM nav nepieciešama specifiska sagatavošana, kas varētu iznīcināt paraugu. (piem. nogalināt šūnas bioloģiskiem paraugiem). Elektronu mikroskopam ir nepieciešams vakuums, bet AFM var darboties gaisā vai pat šķidrumā. Galvenais AFM trūkums, salīdzinot ar SEM (skenējošo elektronmikroskopu) ir maksimālais attēla izmērs. Ar SEM var apskatīt paraugu ar izmēriem milimetros un asuma dziļums (depth of field) arī ir milimetros, taču AFM var parādīt maksimālo augstumu mikrometros (zem 10 um) un maksimālais attēla izmērs ir ~100x100 um. AFM arī nevar iegūt attēlus tik ātri kā SEM, lai iegūtu attēlu vajag vairākas minūtes, bet SEM spēj skenēt gandrīz reālajā laikā (lai arī ar diezgan zemu kvalitāti)(arī AFM pazeminot kvalitāti var skenēt ātrāk, tomēr tie ātrumi nav salīdzināmi ar SEM ātrumiem un ir ļoti atkarīgi no mēroga (atomāras izšķirtspējas attēliem (tādiem kur var redzēt atsevišķas molekulas vai atomus) lieto samērā lielus ātrumus (20-50Hz), tur attēlu var iegūt līdz 6 sekundēs, bet tas nedarbojas lielāka izmēra attēliem).
-
-
- ~90% tulkots no en wiki
-
[izmainīt šo sadaļu] Fizikālās vielas pētīšanas metodes
Linki uz attiecīgajiem raxtiem @ en wiki (iedalījums ir viens no iespējamajiem).
- EDS, EDX en:Energy-dispersive X-ray spectroscopy (lieto kopā ar SEM vai STEM)
-
-
- EFM (electric force microscopy, en liekas vēl nav)
- SCM (scanning capacitance microscopy)
- STM en:Scanning tunneling microscope
- SNOM vai NSOM en:Near-field scanning optical microscope
-
- Mikroskops (optiskais) en:Microscopy, en:Microscope
- Rentgendifraktometrija en:X-ray crystallography
[izmainīt šo sadaļu] Rentgendifraktometrija
[izmainīt šo sadaļu] Rentgenstaru analītiskās metodes
Vispārīgā variantā vielas pē'tīšanai lietotās analītiskās metodes var iedalīt 3 grupās:
- Radiogrāfija - bāzējas uz rentgenstaru absorbcijas atkarību no vielas blīvuma. Šo metodi ļoti plaši lieto medicīnā (kaulu blīvums ir lielāks nekā mīksto audu blīvums).
- Rentgendifraktometrija - bāzējas uz rentgenstaru (viļņu) difrakciju kristālos. Šīs metodes pamatā iedala divās grupās - difraktometrija, kur pēta parauga (monokristāla vai polikristāliska maisījuma) difrakciju (nosaka vai identificē kristālisko struktūru) un topogrāfija, kur nosaka monokristāla defektus (tajās vietās nenotiek difrakcija).
- Rentgenfluorescence - bāzējas uz rentgenstaru izraisīto fluorescenci (sekundārā starojuma emisiju)(sekundārajam starojumam ir mazāks viļņa garums).
Rentgendifraktometriju un renenfluorescenci lieto vielas īpašību pētīšanai. Rentgenfluorecsenci lieto stikla un cementa rūpniecības izejvielu un starpproduktu sastāva kontrolei, jo ar šo metodi ir iespējams analizēt nepārtrauktu plūsmu.
no http://epswww.unm.edu/xrd/xrdclass/01-XRD-Intro.pdf
[izmainīt šo sadaļu] Rentgenstruktūranalīze
Rentgenstruktūranalīze aptver vairākas vielas atomārās un molekulārās uzbūves pētīšanas metodes, kas balstās uz rentgenstaru difrakciju. Pazīstamākā no šīm metodēm ir rentgendifraktometrija, ar kuru nosaka monokristālu uzbūvi vai polikristālisku maisījumu fāzu sastāvu. Vēl eksistē arī rentgentopogrāfija, kuru lieto lai noteiktu monokristālu defektus. Tā, kā rentgenstaru viļņa garums ir samērojams ar attālumiem starp atomiem, kristāliskajā režģī, ir iespējama difrakcija. Rentgendifraktometriju parasti lieto pulverveida vielu maisījumu fāzu sastāvu noteikšanai. Kristāliem polikristāliskajā pulverī ir jābūt pietiekoši lieliem, lai būtu iespējama difrakcija. No amorfām vielām ir iespējams iegūt tikai aptuvenus datus par struktūru. Galvenās rentgenstruktūranalīzes metodes:
- Rentgendifraktometrija
- Monokristālu rentgendifraktometrija
- Polikristālu rentgendifraktometrija
- Rentgentopogrāfija
Rentgendifraktometrijā paraugu apstaro ar rentgenstariem un mēra caurgājušā vai atstarotā starojuma intensitāti atkarībā no atstarošanas leņķa. Rentgenstarojumu parasti iegūst ar rentgenlampām, leņķus starp rentgenstarojuma avotu, paraugu un starojuma detektoru mēra ar goniometru. Par starojuma detektoru agrāk lietoja fotofilmu, un šādu metodi sauc par rentgenogrāfiju. Filma ir divdimensionāla, taču relatīvi mazjutīga. Vēlāk sāka lietot kvantu skaitītājus (gāzizlādes skaitītājus) un scintilācijas skaitītājus. Tie ir ievērojami jutīgāki, taču ir viendimensionāli. Scintilācijas skaitītājs sastāv no scintilatora kristāla, kas spīd (izstaro redzamo gaismu), ja to apstaro ar rentgenstariem. Viens rentgenstarojuma kvants var radīt vairākus redzamās gaismas kvantus, atkarībā no enerģijas. Šādiem mērķiem parasti lieto nātrija jodīdu. Aiz scintilatora kristāla atrodas fotoelektronu daudzkāršotājs, kas gaismas kvantus pārveido elektriskos impulsos.
[izmainīt šo sadaļu] Polikristālisku maisījumu rentgendifraktometrija
Ja cietu, kristālisku vielu maisījums ir nehomogēns (satur vairākas fāzes) un atsevišķo fāzu struktūras ir atšķirīgas, tad tāda maisījuma difrakcijas ainā ir sastopami katrai fāzei raksturīgie difrakcijas maksimumi. Iegūtā difrakcijas aina ir atsevišķo fāzu difrakcijas ainu kombinācija. Ja fāzu skaits nav pārāk liels un difrakcijas maksimumi nepārklājas, tad maisījumā ietilpstošās vielas var samērā viegli un ticami identificēt no rentgenogrammas nosakot starpplakņu attālumus, kurus salīdzina ar datiem no no datubāzes. Parasti maisījuma ķīmiskais sastāvs ir aptuveni zināms, kas ierobežo iespējamo fāzu skaitu. Polikristāliskiem paraugiem lieto Debaja metodi. Tā balstās uz to, ka viendabīgā maisījumā kristāli ar dažādu orientāciju ir vienādos daudzumos. Apstarojot šādu, viendabīgu maisījumu ar monohromatiskiem rentgenstariem, difrakcijas maksimumi veido koncentriskus konusus telpā aiz parauga. Konusu augstuma plaknei perpendikulāri novieto fotofilmu vai detektoru. Ja lieto filmu (kas ir divdimensionāla), datus par visām difrakcijas līnijām iegūst vienlaicīgi, ja lieto radiācijas detektoru, to nākas pārvietot konusu ass plaknē, saglabājot konstantu attālumu līdz konusu virsotnei. Šo rotācijas asi parasti sauc par teta asi. Ja paraugā esošie kristāli ir pārāk lieli vai arī ir orientēti kādā virzienā, dažas no koniskajām virsmām kļūst pārtrauktas (atstarotā starojuma intensitāte konusa aplocē vairs nav konstants lielums). Parasti no tā cenšas izvairīties, jo tas maitā difrakcijas analīzes datu ticamību, bet to var lietot arī kristalītu izmēru noteikšanai (ja tie ir lieli, jo konusu pārtraukumu lielums kautkādā mērā ir proporcionāls kristalītu izmēriem) un tekstūras noteikšanai (kādas kristalītu kristalogrāfiskās ass orientācija kādā notiektā virzienā). Ja lieto filmu, šie dati parādās perpendikulāri teta asij. Ja lieto radiācijas detektoru, nepieciešams goniometrs, kas spēj griezt paraugu ap asi, kas iet caur parauga plakni (beta ass).
Mūsdienās galvenokārt lieto rentgendifraktometrus ar goniometriem un radiācijas detektoriem. Iegūtie difrakcijas dati ir līkne koordinātēs intensitāte - 2teta.
Lielākā daļa vielu visai ievērojami absorbē rentgenstarus, tapēc parasti lieto atstarošanas metodi. Plāniem paraugiem var lietot arī caurstarošanas metodi.
[izmainīt šo sadaļu] VirtualDub
Virtualdub ir lineārā video rediģēšanas programma. Tā ir open source un ir licencēta saskaņā ar GPL. Virtualdub ir paredzēts AVI failu rediģēšanai, jaunākajām versijām ir iespējams arī atvērt (nolasīt) citus formātus(MPEG2), taču saglabāt var tikai AVI. Virtualdub var atvērt un apstrādāt jebkādus avi formāta videofailus kamēr vien sistēmā ir attiecīgie audio un video kodeki. Ar virtualdub iespējams arī capturēt video (video ierakstīšana datorā no ārēja signāla avota (piem. no televīzijas kartes)). Pie dažām ieejas parametru kombinācijām, programma met ārā kļūdu file exists, kas dokumentācijā nekur sīkāk nav aprakstīta. Parametri, kas darbojas:
- Device - principā whatever, bet rekomendē directshow (testēts un darbojās ar DS);
- Video - preview (ja ir overlay vai none, tas veidojums nedarbojas)
- Capture un preview pin vēlami ar vienādiem parametriem (kaut arī funkcionējošais veidojums preview gadījumā darbojās pavisam atšķirīgi)
- Video formāts - nav datu par izšķirtspējām, max uz abiem darbojās OK, krāsu modelis - YUY2 darbojās OK, rezultātu gan VLC normāli neatvēra (late frames), RGB 24, kas ir otrs ieteicamākais tomēr nedarbojās.